Der neue EA1280 verfügt über die empfohlene Detektorauflösung des chinesischen Standards (GB-Standard) und bietet eine höhere Arbeitseffizienz und analytische Genauigkeit als andere Halbleiterdetektoren wie Si-PIN-Dioden. Insbesondere im Vergleich zu anderen Analysemethoden bietet die Röntgenfluorescenzanalyse eine schnelle, zerstörungsfreie und einfache Elementanalyse und wird daher immer wieder bei der RoHS-Konformitätsscreening verwendet.

1. Die Verwendung eines neuen Hochleistungshalbleiterdetektors (Siliziumdrift-Detektor (SDD)) ermöglicht eine verbesserte Prüfeffizienz und zuverlässigere Ergebnisse.

2. Die Verwendung von koaxialen optischen Geräten zur Probenbeobsichtigung und Bestrahlung von Röntgenstrahlen erleichtert die Analyse verschiedener Proben.

3. Ausgestattet mit benutzerfreundlicher Software, ermöglicht es dem Bediener, den Analyzer einfach mit einer einfachen Qualitätskontrolle- und Prozesskontrollschulung zu bedienen.