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Elektronische Testmaschine Shimazu AGS-X
Shimazu AGS-X Elektronische Testmaschine AGS-X-Serie Testmaschine mit integrierter Struktur von Gastgeber und Steuerung, kleine Fl?che, ist eine klein
Produktdetails

Elektronische Testmaschine Shimazu AGS-X



Die AGS-X-Serie ist eine kleine elektronische Testmaschine mit einer integrierten Struktur von Master und Steuerung, die eine kleine Fläche einnimmt und einfach zu bedienen ist. Diese Serie hat die internationale CE-Zertifizierung erhalten und ist derzeit die kostengünstigere Testmaschine der Welt.


Eigenschaften:

1. Gastgeber und Steuergerät mit integriertem Design, ultradünnes Design, geeignet für die Installation in einem kleinen Raum.

2. Wechselstrom-Servomotor-Antrieb, die Kontrollleistung ist wartungsfrei.

3. Automatische Lasthaltung, Spannungssteuerung und Probenschutzfunktion.

4. Hochgeschwindigkeits-Rückkehrfunktion zum Ursprungspunkt, um die Vorbereitungszeit für den nächsten Test zu verkürzen und die Effizienz des Tests zu verbessern.

5. verfügt über eine Vielzahl von perfekten Testeinrichtungen, die sich für die Testanforderungen einer Vielzahl von Proben eignen.

6. mit Rack-Verlängerung, kann auf der Grundlage der ursprünglichen Höhe größer als 500 mm verlängert werden, besonders geeignet für die Dehnungsprüfung von großen Verformungsproben wie Gummi.


Produktspezifikationen:

Lastkapazität: 20KN, 50KN

Lastgenauigkeit: ±0,5% des Anzeigewertes (Garantiebereich: 0,2 bis)

Testgeschwindigkeit: 0,001 bis 1600mm / min (20kN), 0,001 bis 800mm / min (50kN)

Geschwindigkeitsgenauigkeit: ± 0,1%

Rückkehrgeschwindigkeit: 2200 mm/min (20kN), 1100 mm/min (50kN)

Auflösung der Positionserkennung: 0,066 μm (20 kN), 0,033 μm (50 kN)

Positionssteuerungsgenauigkeit: ± 0,1%

Datenabtastintervall: 1ms


Produktanwendung:

1. Verschiedene Metallplatten, Draht und Fasern

2. Dehn-, Kompressions- und Biegeprüfung von Kunststoffen, Gummi und Verbundstoffen

3. Zug-, Entfernungs- und Schweißfestigkeitsprüfung von elektronischen Komponenten

4. Biegefestigkeitsprüfung von Leiterplatten

5. Abtrennprüfung von Leiterplatten


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