Gebrauchtes Oxford Dickenmessgerät

Instrumenteinführung:

CMI900 Fluoreszenz-Röntgenbeschichtungsdickenmesser, mit den Vorteilen von zerstörungsfreier, berührungsfreier, schneller schädigungsfreier Messung, mehrschichtiger Legierungsmessung, hoher Produktivität, hoher Reproduzierbarkeit und anderem, um die Oberflächenbeschichtungsdicke zu messen, von Qualitätsmanagement bis zu Kosteneinsparungen hat eine breite Palette von Anwendungen.

Anwendungsbereich:

Für die Messung von Elektronikkomponenten, Halbleitern, Leiterplatten, FPC, LED-Halterungen, Automobilteilen, funktionellen Beschichtungen, Dekorationsteilen, Steckverbindern, Anschlüssen, Toilettengeräten, Schmuck ... Oberflächenbeschichtungsdicken in mehreren Branchen;

Messung der Beschichtung, der Metallbeschichtung, der Dicke der Folie oder der Zusammensetzung der Flüssigkeit (Zusammensetzungsanalyse der Beschichtungslösung).

Hauptmerkmale:

Breiter Messbereich, detektierbarer Elementbereich: Ti22-U92;

5 Schichten / 15 Elemente / Koexistenzielle Elemente können gleichzeitig positiv bestimmt werden;

Hohe Genauigkeit und gute Stabilität;

Leistungsfähige Datenstatistik, Verarbeitungsfunktionen;

NIST-zertifizierte Standardplätze;

Globaler Service und Support.

Parametereinstellung:

1. Röntgen-Anregungssystem

Vertikale Röntgenoptiksysteme

Luftgekühltes mikrofokussiertes Röntgenrohr, Be Fenster

Standardziel: Rh-Ziel; Optionale Ziele: W, Mo, Ag usw.

Leistung: 50W (4-50kV, 0-1.0mA)

Ausgestattet mit Sicherheitsstrahlensperren

Sekundärer Röntgenfilter: 3 Positionssteuerungswechsel, verschiedene Materialien, verschiedene Dicken Sekundärfilter optional

2. Gleichrichtersystem

Einrichter-Komponenten, Multirichter-automatische Steuerung

Komponenten: Gleichzeitige Montage von bis zu 6 Spezifikationen

Viele Spezifikationen Größe Straighten optional:

- Rund, wie 4, 6, 8, 12, 13, 20 mil usw.

0,102, 0,152, 0,203, 0,305, 0,330 und 0,508 mm

- Rechtecke wie 1x2, 2x2, 0,5x10, 1x10, 2x10, 4x16mil usw.

Das heißt 0,025 * 0,05, 0,05 * 0,05, 0,013 * 0,254, 0,025 * 0,254, 0,051 * 0,254, 0,102 * 0,406mm

Messfleckengröße bei 12,7 mm Fokussabstand, Mindestmessfleckengröße: 0,078 x 0,055 mm (mit 0,025 x 0,05 mm < oder 1x2mil> Gleichrichter) Bei 12,7 mm Fokussabstand, größere Messfleckengröße: 0,38 x 0,42 mm (mit 0,3 mm < oder rund 12mil> Gleichrichter)

3. Probenraum

Schlitz-Probe-Raum-Probe-Tisch größer 610mm x 610mmXY-Achse Bewegungsbereich Standard: 152,4 x 177,8mm<Programm Steuerung> Z-Achse Steuerung Bewegungshöhe 43,18mmXYZ-Achse Steuerung verschiedene Steuerungsmethoden Optional: XYZ Drei-Achse-Programm Steuerung; XY-Achse manuelle Steuerung und Z-Achse Programm Steuerung; XYZ Drei Achsen manuelle Steuerung

4. Probenbewertungssystem

Hochauflösendes farbiges CCD-Beobachtungssystem mit 30facher Standardvergrößerung. 50- und 100-fache Beobachtungssysteme sind wahlweise. Laserautofokussfunktionszoombare Brennweitensteuerung und feste Brennweitensteuerung ComputersystemkonfigurationIBM-Computer

HP oder Epson Farbdruckeranalyseanwendung Betriebssystem: Windows XP Plattform-Analysepaket: SmartLink FP-Paket

5. Dickenbereich

Messbarer Dickenbereich: Abhängig von Ihrer spezifischen Anwendung.

Die grundlegende Analysefunktion wird durch die grundlegende Parametermethode korrigiert. Oxford Instruments wird Standardproben mit den erforderlichen Korrekturen entsprechend Ihrer Anwendung zur Verfügung stellen;

Probenart: Beschichtung; Erkennbarer Elementbereich: Ti22 – U92; Die Korrektur von 5 Schichten/15 Elementen/Koexistenzelementen kann gleichzeitig gemessen werden; Edelmetallprüfung wie Au Karat Bewertung; Analyse von Materialien und Legierungselementen; Identifizierung und Klassifizierung von Materialien;

Bis zu 4 Proben werden gleichzeitig angezeigt und verglichen; Qualitative Analyse des Elementenspektrums. Anpassung und Korrektur

Systemautomatische Anpassung und Korrektur, automatische Beseitigung der Systemdriftmessung AutomatisierungsfunktionMausaktivierter Messmodus: "Point and Shoot" Mehrpunktmessmodus: Zufallsmodus, Linearmodus, Gradientmodus, Scanmodus, Wiederholmessmodus

MesspositionsvoranschauFunktion Laserfokussierung und Autofokussierung Probenstandssteuerung Einstellung des Messpunkts Kontinuierliche Mehrpunktmessung

Messpositionsvoranschau (Diagramm) statistische Berechnungsfunktionsdurchschnitt, Standardabweichung, relative Standardabweichung, größerer Wert, minimaler Wert, Datenveränderungsbereich, Datennummer, CP、CPK、 Optionale Software zur Steuerung der oberen und unteren Grenzen: Statistische Berichte Editor ermöglicht es dem Benutzer, Multimedia-Berichte, Datengruppen, X-bar / R-Diagramme, Histogramm-Datenbank-Speicherfunktionen anzupassen,

Systemsicherheitsüberwachung, Z-Achse-Schutzsensor, Probenraumtür-Öffnungs-Schließsensor