Messung der ** Reflexivität der Zielfolie, hohe Präzision zur Messung der Filmdicke und der optischen Konstanten! Kontaktlos · Zerstörungslos · Mikroskopie

Die Messzeit ist nur 1 Sekunde!

Die Differentialfilmendickenmesser (OPTM-Serie) ermöglichen eine hochpräzise Analyse der Filmdicke/optischen Konstanten durch die Messung der Reflexivität** in kleinen Bereichen mittels Mikrospektrospektrometer. Messung der Dicke von Beschichtungen, wie z. B. verschiedene Folien, Chips, optische Materialien und mehrschichtige Folien, auf zerstörungsfreie und berührungsfreie Weise. Hochgeschwindigkeitsmessung von bis zu 1 Sekunde/Punkt bei der Messzeit und Software zur Analyse optischer Konstanten, auch beim ersten Gebrauch

Eigenschaften:

• Der Kopf integriert die erforderlichen Funktionen zur Messung der Filmdicke

• Hochpräzise Messung der Reflexivität durch Mikrospektrospektrometrie** (Mehrschichtmembrandicke, optische Konstante)

• 1:1 Sekunde Hochgeschwindigkeitsmessung

• Breites optisches System unter Differenzlicht (UV*** Near Infrared)

• Sicherheitsmechanismus für Regionalsensoren

• Einfacher Analyse-Assistent, auch Anfänger können optische Konstantenanalysen durchführen

• Unabhängiger Messkopf für eine Vielzahl von Inline-Anpassungen

• Unterstützt verschiedene Anpassungen

Messobjekte:

• ** Reflexionsmessung

• Multilayer-Membran-Analyse

• Analyse optischer Konstanten (n: Brechungsgrad, k: Lichtdämpfungskoeffizient)

Anwendung:

• Halbleiter: automatische Einstellung der Wafer-Probe, Erfassung der Wafer-Biegung

• Optische Komponenten: Strahlungsgrad, Biegung usw. der Objektivlinse

Produktspezifikationen：