1: Querschnitt von SiC-Schleifpapier l 2: Querschnitt von Sperrblech l 3: Koaxiale Polymerfasern (in Wasser gelöst), hergestellt unter -120°C l 4: Bearbeitung des gezeigten Ölschiefers (Nanopore) mit einem Gesamtprobendurchmesser von 25 mm mit Leica EM TIC 3X (mit Drehträger)

Kopierbare Ergebnisse

Das Leica EM TIC 3X Tri-Ionen-Strahlschneider bereitet Querschnitte und polierte Oberflächen für Scan-Elektronenmikroskopie (SEM), Mikrostrukturanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) und AFM-Forschung vor.

Mit der Leica EM TIX 3X können Sie eine qualitativ hochwertige Oberflächenbehandlung von nahezu jedem Material bei Raumtemperatur oder Gefriertemperatur erreichen und die innere Struktur der Probe im nahezu natürlichen Zustand möglichst zeigen.

Ein beispielloser Komfort!

Effizienz

Für die Effizienz einer Ionenstrahlschleifmaschine ist es wirklich wichtig, gleichzeitig ein hervorragendes qualitatives Ergebnis und eine hohe Ertragsfähigkeit zu erzielen. Im Vergleich zur Vorgängerversion verdoppelt die neue Version nicht nur die Schneidgeschwindigkeit, sondern das einzigartige Tri-Ionen-Strahlsystem optimiert auch die Zubereitungsqualität und verkürzt die Arbeitszeit. Bis zu drei Proben können gleichzeitig verarbeitet und auf demselben Tragstisch geschnitten und poliert werden.

Workflow-Lösungen ermöglichen die sichere und effiziente Übertragung von Proben an die nachfolgenden Vorbereitungsinstrumente oder Analysesysteme.

Flexibles System – jederzeit auf Ihre Bedürfnisse zugeschnitten

Mit einer flexiblen Auswahl an Trägerständen ist der Leica EM TIC 3X nicht nur die ideale Anlage für eine hohe Produktion, sondern auch für Labore, in denen Tests in Auftrag gegeben werden. Die Leica EM TIC 3X kann je nach Ihren Bedürfnissen individuell mit folgenden austauschbaren Tragstellen konfiguriert werden:

• Standard-Tragstelle
• Vielfalts-Transportstation
• Drehträger
• Kühllager oder
• Vakuum-Gefriertransfer Docking

Für die Vorbereitung von Standardproben, die Verarbeitung mit hohem Ertrag und die Vorbereitung von Proben, die bei niedrigen Temperaturen ungewöhnlich empfindlich sind, wie Polymere, Gummi oder Biomaterialien.

Umweltgesteuerte Workflow-Lösungen

Dank der VCT-Schnittstelle mit Leica EM TIC 3X ermöglichen Sie einen ausgezeichneten Planungsablauf für umweltfreundliche Proben und/oder Proben mit niedriger Temperatur, einschließlich

• Biologisches Material,
• Geologische Materialien
• oder industriellen Materialien.

Diese Proben werden anschließend unter Inertgas-/Vakuum-/Gefrierbedingungen an unsere Beschichtungssysteme EM ACE600 oder EM ACE900 und/oder SEM übertragen.

Standard-Workflow-Lösung – Synergie mit Leica EM TXP

Vor dem Einsatz des Leica EM TIC 3X sind in der Regel mechanische Vorbereitungen erforderlich, um so nah wie möglich an den Interessenbereichen zu gelangen. Das Leica EM TXP ist ein einzigartiges Ziel-Oberflächenpoliersystem, das für das Schneiden und Polieren von Proben entwickelt wurde und für die anschließende technische Bearbeitung von Instrumenten wie dem Leica EM TIC 3X vorbereitet ist.

Leica EM TXP wurde speziell für die Vorfertigung von Proben mit Säge-, Fräs-, Schleif- und Poliertechniken entwickelt. Für anspruchsvolle Proben, die eine präzise Positionierung erfordern und schwer vorbereitet werden, liefert es hervorragende Ergebnisse und macht die Verarbeitung einfach.