v Weltweit führende Technologie und zahlreiche eigene Patente
v Funktionsprüfungen für einseitige, Standard-, Multisegment- und Punktmessungen
v Leitwiderstand kann separat gruppiert werden, einseitig punktmessbarer Leitwiderstand
v Punktmessung kann für einzelne Linienempfindlichkeitswerte und Farben individuell eingestellt werden
v Maximal messbare Kapazität500μFMessbare Kapazität und Positive-Negative-Kapazität
v Kurzschluss, schlechte offene Schaltung Endseite genaue Urteil
v Gesamte Testgeschwindigkeit des Systems verdoppelt im Vergleich zu herkömmlichen Vergleichsprodukten
v Bereitstellung von fortgeschrittenenUSBundRS232Schnittstelle,und können mitPCOnline-Betrieb
v Spezialmaterialien und Fertigungsverfahren, Isolierung mit geringerer Luftbelastung
v Statistische Berichte und Druckfunktionen
v Das System bietet eine gute Produktzählfunktion, die je nach Anforderungen an die Anzahl der Produktverpackungen verfügbar istEinstellung einer Erinnerung zur Zählung der getesteten Güter
v Autonome Software-Hardware-Konstruktion, individuelle Anpassung zusätzlicher Funktionen nach Kundenanforderungen
v Englisch mit einem Klick wechseln
Technische Daten SPECIFICATION
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Testen Menge Zeit Zimmer Test time |
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Brechen/KurzschlüsseOpen/short |
Schnell(4ms/Nächster/128Punkte),Langsam.(8ms/Nächster/128Punkte) |
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FührungswiderstandCond |
Schnell55Nächster/Sekunden,Mittelgeschwindigkeit45Nächster/Sekunden,Langsam.30Nächster/Sekunden0.2s/64net(Standard)Referenzen |
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IsolierungswiderstandInsulation resistance |
Ein paar andere.3.6s/128net(0.01s)Hälfte schnell0.4s/128net(0.01s) 0.01Sekunden...60Sekunden auswählbar |
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Kommunikation HochdruckAC High Voltage |
Ein paar andere.9.5s/128net(0.01s)Hälfte schnell0.9s/128net(0.01s) 0.01Sekunden...60Sekunden auswählbar |
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Moment/Hochgeschwindigkeits-Shortcut INT Time |
0Sekunden...99Sekunden Einrichten0Sekunden sind unbegrenzte Zeit
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Testen Versuchen Siehe AnzahlTest parameters |
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Eintrag AugenProject |
SymboleSymbol |
TestbereichTest range |
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Brechen/Kurzschlüsse |
O/S |
1KΩ~100KΩ |
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Durchführungswiderstandsprüfung |
COND |
1mΩ~50Ω |
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Widerstandsmessung |
R |
0.1Ω~5MΩ |
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Kapazitätsmessung |
C |
10pF~1000μF |
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Diodenmessung |
D |
0.0V~7.0V |
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Isolierungswiderstand |
I.S |
0.1MΩ~1000MΩ |
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Gleichstrom-Leckstrom |
IL |
1μA~1000μA |
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Hochspannungsleckstrom |
IL |
0.01mA~5mA |
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Sofortige Impedanz |
INT.COND |
1mΩ~50Ω |
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Schnelle Zwischenzeiten |
INT.OPEN |
0.4ms |
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Sofortige kurze Wege |
INT.O/S |
2ms/64pinEmpfindlichkeit |
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Regeln Gr sagen Klar Specifications |
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Testen Sie den Scanmodus Scan Mode |
Automatisch/Manuell/Kontinuierlich/Externer Scan schaltbar |
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Anzeigen/SchallalarmgeräteWaming device |
Pass/Fail LEDRotgrüne Anzeige/Bildschirm anzeigen/Stimmpolizei320*240LCDLCD-Display, blau/Weißer Boden wechselbar |
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Speichergeräte |
Eingebaut512KB SRAM,Erweiterbar1024KB |
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GrößeSize |
(W×D×H)425×190×350mm |
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GewichtWeight |
ungefähr14kg(Ohne Zubehör)
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Auswahl Kaufen Zeigen SüdenSelection Guide |
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Produktmodell
Product Type |
Anzahl der Messpunkte
Test Points |
Messung der Spannung
Test Voltage |
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LK-5800D |
64pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800F |
64 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800N |
128pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800N2 |
256pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800NA |
128 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800NA2 |
256pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800FA |
128 pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
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LK-5800FA2 |
256pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
