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Feldtransmissions-Elektronenmikroskop HF-3300
Hitachis bekannte Elektronenquelle mit Kaltfeld-Emission und die 300 kV-Beschleunigungsspannungstechnologie schaffen gemeinsam ultrahochauflösende Bil
Produktdetails
Feldtransmissions-Elektronenmikroskop HF-3300
Hitachis bekannte Elektronenquelle mit Kaltfeld-Emission und die 300 kV-Beschleunigungsspannungstechnologie schaffen gemeinsam ultrahochauflösende Bildgebung und hochempfindliche Analysefunktionen. Die Dual-Prism-Holographie, die räumliche Auflösung des Elektronenenergieverlustspektrums und die hochpräzise parallele Nanoelektronenstrahlendiffraktionstechnologie eröffnen neue Wege für eine effiziente, hochpräzise Probenanalyse.
Eigenschaften
Auflösung
0,1 nm (Kristallpunkte)
0,19 nm (Punkt zu Punkt)
0,13 nm (Informationsgrenze)
Vergrößern
200 bis 1.500.000 Mal
Beschleunigte Spannung
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
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