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Serie 378 - Halbleiterprüfmikroskope
Das optische System der Serie 378 - Halbleiterprüfmikroskope FS-70 wurde für das meistverkaufte Modell FS60 (später FS70) entwickelt. Serie 378 - Halb
Produktdetails
Serie 378 - Merkmale des Halbleiterprüfmikroskops FS-70
Dieses optische System wurde ursprünglich für den meistverkauften Typ FS60 (später auf den Typ FS70) entwickelt.Es ist ideal als Mikroskop zur Messung und Erkennung von Halbleitergeräten.
FS70L unterstützt 3 YAG-Laserwellen (1064nm, 532nm, 355nm), FS70L4 unterstützt 2 Wellenlängen (532nm, 266nm) und kann Laserschneiden und Dünnfilmtechnologie in Halbleiter- und Flüssigkristallsubstraten verwenden. Dadurch wird der Einsatz von Lasern erweitert. Die Verwendung von Sanfeng Messgeräten für die Leistung und Sicherheit des Laserstrahls des Mikroskops ist jedoch nicht verantwortlich. Wir empfehlen, dass Sie beim Kauf eines Lasersenders sorgfältig überprüfen.
Standardfunktionen des FS70Z sind: Helle Sichtfelder, Differential Interference Contrast (DIC) und Polarisationsbeobachtung. FS70L und FS70L4 unterstützen keine DIC. 4. Die Verwendung eines eingebauten Wandlers macht die Bedienung von Objektiven mit langen Arbeitsdistanzen sehr einfach.
5. Sehr einfach zu bedienen Design: FS70 verwendet ein optisches System (das Bild im Sichtfeld ist die gleiche Richtung wie die Probe) und vergrößert das Handrad mit einem Gummigriff.
Serie 378 - Leistungsparameter des Halbleiterprüfmikroskops FS-70
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Modellnummer |
FS-70 |
FS70-TH |
FS70Z |
FS70Z-TH |
FS70L |
FS70L-TH |
FS70L4 |
JS70L4-TH |
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Warennummer |
378-184-1 |
378-184-3 |
378-185-1 |
378-185-3 |
378-186-1 |
378-186-3 |
378-187-1 |
378-187-3 |
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Kurzes Basismodell |
FS70-S |
FS70-THS |
FS70Z-S |
FS70Z-THS |
FS70L-S |
FS70L-THS |
FS70L4-S |
FS70L4-THS |
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Warennummer |
378-184-2 |
378-184-4 |
378-185-2 |
378-185-4 |
378-186-2 |
378-186-4 |
378-187-2 |
378-187-4 |
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Fokus |
50 mm Strecke, konzentrischer Brennweit grob (3,8 mm/U) und fein eingestellt (0,1 mm/U) Handrad (links, rechts 0) |
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Bild |
Genau so. |
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Augenaufstand |
Siedentopf-Typ, Verstellbereich |
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Anzahl der Sichtfelder |
24 |
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Winkel |
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0° bis 20° |
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0° bis 20° |
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0° bis 20° |
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0° bis 20° |
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Durchlaufrate |
50/50 |
100/0 oder 0/100 |
50/50 |
100/0 oder 0/100 |
100/0 oder 0/100 |
100/0 oder 0/100 |
100/0 oder 0/100 |
100/0 oder 0/100 |
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Röhrenobjektiv |
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Integrierter Laserfilter |
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Laseranwendung |
1× |
1× |
1× |
2×zoom |
1× |
1× |
1× |
1× |
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Laseranwendung |
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1064/532/355mm |
532/355mm |
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Kamera-Port |
C-mount (mit Adapter Option B) |
Verwenden von Laserschildern mit TV-Anschlüssen |
C-mount Steckdose (mit grünem Filterumschalter) |
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Beleuchtungssystem, optional |
Reflexionsbeleuchtung (Kohler-Beleuchtung, mit Blende) 12V 100W Glasfaser, keine polare Helligkeitsstellung, Lichtleitlänge: 1,5 m, Leistungsverbrauch: 150 W |
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Objektiv, optional |
M Plan Apo,M Plan Apo SL, G Plan Apo |
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Objektiv, optional |
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M/LCD Plan NIR M/L CD Plan NUV |
M Plan UV |
M Plan UV |
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Belastung |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
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Gewicht (Host) |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
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Serie 378 - Technische Parameter des Halbleiterprüfmikroskops FS-70
Fokus
Methode: mit konzentriertem groben und fein abgestimmten Handrad (links und rechts)
Reichweite: 50mm Messbereich, 0,1mm / Dreh, 3,8mm / Dreh
Dreifacher Spiegelbild: Genau wie
Augenaufstand: Siedentopf-Typ
Verstellbereich: 51-76mm
Anzahl Sehenswürdigkeiten: 24
Neigungswinkel: 0°-20° (nur für -TH, THS-Modelle)
Beleuchtungssystem: Lichtfeldreflektierende Beleuchtung (Kohler-Beleuchtung mit Blende)
Lichtquelle: 12V100W Faser, keine polare Helligkeitsstellung), Lichtleiterlänge 1,5 m, Stromverbrauch 150 W
Objektive (optional): M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo
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